SuperViewW1白光表面干涉儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航天、半導體等各類精密工件表面質(zhì)量要求高的領(lǐng)域中，可以說只有3d非接觸式光學輪廓儀才能達到微型范圍內(nèi)重點部位的納米級粗糙度、輪廓等參數(shù)的測量。

產(chǎn)品特點
參數(shù)測量：粗糙度、微觀輪廓尺寸、角度、面積、體積，一網(wǎng)打盡；
環(huán)境噪聲檢測：實時監(jiān)測，納米波動，也無可藏匿；
雙重防撞保護：軟件ZSTOP和Z向硬件傳感器，讓“以卵擊石”也能安然無恙；
自動拼接：3軸光柵閉環(huán)反饋，讓3D拼接“天衣無縫”；
雙重振動隔離：氣浮隔振，吸音隔振，任你“地動山搖，我自巋然不動”。

產(chǎn)品性能
縱向掃描：≤10.3mm，與選用物鏡相關(guān)
掃描幀速：50FPS/s
粗糙度重復性：0.005nm（依據(jù)ISO 25178-2012）
光學分辨率：0.4μm~3.7μm，與選用物鏡相關(guān)
至大點數(shù)：1048576（標準）
臺階測量：準確度≤0.3%，重復性≤0.08%1σ

SuperViewW1白光表面干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標準共計300余種2D、3D參數(shù)作為評價標準。