Scanning Kelvin Probe （SKP） 掃描開爾文探針測(cè)試

　　Scanning Vibrating Electrode Technique （SVET， SVP） 掃描振動(dòng)電極測(cè)試

　　Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy （LEIS） 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試

　　Scanning Droplet System （SDS） 掃描電解液微滴測(cè)試

　　Non-Contact Surface Profiling （OSP） 非觸式微區(qū)形貌測(cè)試

　　2. 高精度的樣品定位平臺(tái)，分辨率達(dá)50nm；樣品測(cè)試區(qū)域可達(dá)100mm.

　　3. 建立在普林斯頓50年電化學(xué)工作站研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)上的集成產(chǎn)品，提供更卓越的電流及電位測(cè)試信噪比以及阻抗測(cè)試能力。

　　4. 多功能軟件可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)微區(qū)測(cè)試的功能，操作簡(jiǎn)便，數(shù)據(jù)處理及展現(xiàn)功能強(qiáng)大。

　　5. 專業(yè)的產(chǎn)品應(yīng)用與技術(shù)服務(wù)隊(duì)伍，提供全方位的售后支持。

VersaSCAN 微區(qū)電化學(xué)掃描系統(tǒng)